从实验室到产线：苏州永创-STD2000X如何统一分立器件静态参数测试仪的“语言”？

在半导体设计与制造中，静态参数测试是验证器件性能与可靠性的基石。无论是研发阶段的特性分析，还是量产中的质量控制，对器件直流参数、IV曲线、动态响应等关键指标的精准捕捉，都直接影响产品的最终表现。
然而，传统测试系统往往面临精度不足、兼容性差、扩展性弱等挑战，尤其在面对第三代半导体材料（如SiC、GaN）时，更是力不从心。
今天我们来看一款来自苏州永创智能的STD2000X 半导体分立器件静态电性测试系统，它不仅在精度与速度上实现了突破，更在测试理念与系统集成上展现出独特的创新。
一、不只是“测试仪”，更是“静态参数系统”
STD2000X 被定义为一套完整的“半导体分立器件静态电性测试系统”，其核心定位在于：
覆盖广度：支持7大类、26小类器件测试，包括二极管、三极管、MOSFET、IGBT、光耦、继电器、保护器件等；
材料兼容：不仅适用于传统Si器件，更完整支持SiC、GaN等宽禁带半导体；
功能集成：融合静态参数测试 + IV曲线扫描 + 动态特性分析 + 结电容测量，一站式完成器件表征。


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